seconder ion mass spectrometry

seconder ion mass spectrometry (sims), malzemeye zarar verdikten sonra saçılanları ölçerek yapılan spektrometre yöntemi, baltayla malzemeye vurduktan sonra saçılanları dedekte etmeye benzer.

izotopları gösterme konusunda çok etkilidir. malzemenin ne kadar oksitlendiğini de dedekte edebilirsiniz.

kötü yanı, spektrum çizgisinde, çok tepe noktası bulunur; tozlar, oksitler, izotopların oksitlenme miktarları derken işin içinden çıkmak maliyetli olabilir. yine de ilk tercih edilen yöntemlerden biridir.